توضیحات

مدل Surface Profilometer /50.10 S

بیشینه قابل اندازه گیری 10 میکرومتر- قابل ارتقا تا 100 میکرومتر- کمترین ارتفاع قابل اندازه گیری 50 نانومتر- نیمه اتوماتیک- دارای نرم افزار- جابجایی نمونه در 3 بعد…